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产品简介
用途:
该系列仪器适用于检测PCB内、外层蚀刻后(上绿油前)线路的上幅及下幅宽度,也可检测线间距离、孔到边线距离,以及圆孔、盲孔和弧的直径等;并适用于IC晶片、薄膜和LCD等线宽线距的测量。
特点:
1、精度:采用可精密调焦装置,以及图像处理、自动寻边和亚像素算法等技术; 2、高效:
①红光LED定位;
②自动寻边技术;
③具备SPC统计分析功能。
技术参数:
项目 | XK25 | |
精度 | ①测量精度 | ±1μm |
②分辨率 | 0.4~2.7μm/pixel | |
③总放大倍率 | 70X~450X | |
④光学放大倍率 | 1.4~9×连续可调 | |
对象 | ①板宽 | ≤760mm |
②视野范围 | 0.53mm×0.4mm~3.3mm×2.5mm | |
③线宽 | 20-1200μm | |
仪器外形尺寸(不含电脑) XK25 | 960mmx780mmx1280mm | |
重量(不含电脑) | 145Kg |
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